应用范围:通过XRD光谱仪对电极材料在充放电过程中的物相结构变化进行监测。分体式结构,可以装配不同的样品托,适用于各种XRD光谱仪。
产品型号:X-3-ION-F
上架时间:2024-11-08
版本号:V1.1
功能特点 |
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技术参数 | ||
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主体尺寸 | 直 径 | 51.5 mm |
高 度 | 15mm | |
视 窗 | Ø12mm | |
适配仪器型号 | 本测试装置适用于布鲁克FLIP-STICK 9位样品架,也可提供适于Rigaku和Panalytical XRD光谱仪的样品托,其它具有特殊要求的样品架请与我司联系 | |
备注 | 提供Ø2mm 香蕉插头,提供0.2 mm 厚 Be窗,提供聚合物PI窗口 |
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